株式会社日本サーマル・コンサルティングは熱分析、熱物性、ナノスケール赤外分光/熱分析を専門に高度でより多彩な分析に対応出来るように最先端技術の製品を扱い装置販売と受託分析サービスでお客様のニーズにお応えしています。
従来のFTIRシステムで不可能なナノスケールにおけるIRスペクトルとマッピングが可能になりました.
ナノスケール局所分析シリーズ(米国アナシスインスツルメント社)
●nanoIRスペクトロスコピー(ナノスケール赤外分光分析装置)
赤外スペクトル,赤外吸収マップ,表面形状,表面硬さマップ,局所熱分析,転移温度マッピングを1台の装置で分析可能!!
●Nano-TA VESTAシステム(ナノスケール熱分析)
局所における熱分析と転移温度マッピングが容易に可能!!
●Nano-TA VESTAシステム(ナノスケール熱分析)
上記VESTAシステムにAFM機能搭載により更に微小領域の視野観察と転移温度マッピングが可能!!
●Nano-TA2システム(ナノスケール熱分析)
貴ご使用のAFMに接続しナノスケール熱分析が可能!!
多機能熱分析システム(独国リンザイス社)
温度範囲:-150℃〜2400℃
最大圧力:100bar
●DSC,TG-DTA,TMA,ディラトメーター(固体),レーザーディラトメ-ター,オプティカルディラトメーター(液体/パウダー)
熱伝導率測定システム(独国リンザイス社)
温度範囲:-125℃~1600℃
●レーザー/キセノンフラッシュシステム
高精度な熱伝導率,熱拡散率,比熱測定
●THB(簡易熱電率測定)システム
固体/液体試料の熱伝導率,熱拡散率,比熱測定
●HFM(ヒートフローメーター熱伝導率測定システム)
断熱材や建材の熱伝導率測定
シーベック係数測定システム(独国リンザイス社)
温度範囲:-100℃~1100℃
測定項目:シーベック係数、電気抵抗
詳細は取扱製品のページへ
メンテナンスサービスや定期点検等、お客様から信頼と満足を頂けるように常に技術向上を目指しています
弊社では熱分析受託測定を行っています
≪アプリケーションケミスト募集≫
弊社では大学理系出身で原子間力顕微鏡及び赤外分光分析の経験者を募集しています。
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