新製品・新測定方式赤外分光分析システムのご紹介

お客様各位

貴社益々ご清祥のこととお慶び申し上げます。
又常日頃より格別のお引き立てを賜り誠にありがとうございます。

さて、この度新測定技術赤外分光分析システムを発表致しました。これまで弊社取扱いの赤外分光分析システム(nanoIR)はAFMを利用してnmオーダーの空間分解能分析を実現する方式です。現在nanoIR(AFM-IR)の分解能は10nm以下にまで達成しております。しかしながら、そこまでの分解能を必要とされない分野で従来のFT-IR、ATR及びRamanよりは分解能の高い装置そしてnanoIRよりは安価でFT-IR/ATR装置と同等のシステムのお問い合わせが多くありました。ここにそのご要望にお応えすべく、AFMを利用しない新測定方式による赤外分光分析システムを開発致しましたのでご紹介申し上げます。
尚、詳細に関しましては本年11月7日(火)大阪、8日(水)東京で開催予定しておりますワークショップにて詳細プレゼンテーションを行いますので、ご参加もご検討下さい。

11月ワークショップ

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