株式会社日本サーマル・コンサルティングは熱分析のあらゆる測定手法にチャレンジし、より広範囲な応用に対応出来るように製品を取り揃えそして高い技術で迅速且つ正確をモットーにお客様をサポートすることを目標としています。
原子間力顕微鏡(AFM)にナノサーマルアナリシスサーマルプローブを設置してサンプル表面像(トポグラフ)とピンポイント熱分析測定を行います。初めにAFMモード(タッピングモード又はコンタクトモード)で表面像を測定した後その像の中のポインポイント熱分析を行いたい点にサーマルプローブを固定します。次にサーマルプローブの高さ方向が変化します。その変化が測定対象物の転移を表します。ピンポイントにおけるガラス転移、軟化点そして融解温度を測定することが可能になります。
AFMタッピング又はコンタクトモードでサンプルの表面のトボグラフを測定します。
測定されたトボグラフ。このデータの任意の点を選択しその位置にプローブを固定し昇温熱分析を行います。
最速1500℃/分で昇温した結果のデータが示されています。データはTMAとDTAのシグナルが同時に検出されます。
シリコン基板の上に付着している直径1ミクロン以下のPMMAを測定した例。
フィルムの断面像
各層の熱分析結果。低密度ポリエチレン、高密度ポリエチレン、接着剤等各層の熱的特性が明確に検出されています。
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