株式会社日本サーマル・コンサルティングは熱分析、熱物性、ナノスケール赤外分光/熱分析を専門に高度でより多彩な分析に対応出来るように最先端技術の製品を扱い装置販売と受託分析サービスでお客様のニーズにお応えしています。
米国 アナシスインスツルメント社
タッピングAFM-IR nanoIR2-FSシステムはAFMとパルスチューナブルレーザーの融合で10nm以下の空間分解能で赤外スペクトル、赤外吸収マップ、表面硬さ像を高速スキャンモードにより非常に短時間(スペクトル:数秒、3種マッピング:5分)で測定します。
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高速チューナブルパルスレーザーが、AFMカンチレバーチップ先端と試料表面の接触箇所に照射されて、試料が特定波数領域で光を吸収した時、瞬間的に試料の熱膨張が起こる。 |
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瞬間熱膨張がカンチレバーを刺激し、カンチレバー振動の振幅が変化する。 |
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連続レーザーパルス照射によりカンチレバーの振幅が変化し、振幅信号ピークトップ連続線がIRスペクトルとして表される。 |
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タッピングAFM-IR測定モードにより空間分解能10nm以下の化学特性イメージが得られる。 |
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AFM-IR測定でトポグラフ(AFM高さ像)、化学特性(IR吸収像)及び機械特性(硬さ像)の3種データが同時に得られる。 |
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