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(株)日本サーマル・コンサルティング 取扱商品

  米国アナシスインスツルメント社

米国アナシスインスツルメント社

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AFM-IR/ s-SNOM nanoIR2Sスペクトルスコピー

nanoIR2SシステムはAFMとパルスチューナブルレーザー及びマイケルソン干渉スキャッタリングSNOM技術の融合により10nmの空間分解能でIRスペクトル、IR吸収イメージ測定が可能になるナノスケール赤外分光分析システムです。

ナノスケールにおけるマルチ測定項目


nanoIR2S装置

応用得意分野

無機物一般(グラフェン、ボロンナイトライト、2Dマテリアル他)

s-SNOM方式

検出シグナル

AFM-IRとs-SNOM測定概要

nanoIR2-s(AFM-IR&s-SNOM機能)装置概要

空間分解能

ポイントスペクトル

応用例

グラフェン解析

ナノアンテナ解析

ボロンナイトライド解析

PMMA-PS IR吸収イメージ

 

新機能

AFM-IR及びタッピングAFM-IR機能はnanoIR2及びnanoIR2-FSと同じ仕様になります。(データ等はnanoIR2またはnanoIR2-FS欄をご参照下さい)

 

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