DM NEWS

2019年5月
NEW 熱可塑性樹脂の品質検査装置のご紹介

NEW アナシスインスツルメント社 nanoIRスペクトロスコピー新価格設定のお知らせ

2019年4月
【6月開催】 熱伝導率測定に関するセミナー開催のお知らせ

リンザイス社 熱拡散・熱伝導率測定システム各種装置のご案内

ナノビア社 3次元寸法/形状プロファイラーシステム ノンコンタクト コンフォーカル測定方式

ナノビア社メカニカルテストシステムのご案内

2019年3月
サブミクロン空間分解能 赤外分光分析の現状と新展開セミナーのお知らせ

サブミクロン空間分解能 赤外分光分析システム mIRageスペクトロスコピー 新機能のお知らせ

2019年2月
米国ナノビア社 トライボロジー評価システム トライボメーター製品のご案内

リンザイス社 高温顕微熱分析システムのご案内

リンザイス社 高性能顕微ディラトメーターのご案内

リンザイス社 高性能フラッシュライト(キセノン)熱拡散・熱伝導率測定装置のご案内

測定・解析 コンサルティング業務案内

高性能・小型DSCシステムのご紹介

2019年1月
nanoIR2 赤外スペクトロスコピー 特別価格販売キャンペーン第二弾のお知らせ

nanoIR2 赤外スペクトロスコピー 特別価格販売キャンペーンのお知らせ

2018年11月
顕微FT-IRを超える新世代 高空間分解能赤外分光分析システム フォトサーマルインデュースドレゾナンス検出方式 mIRage(ミラージュ)システム特別価格販売のご紹介

新製品 DSC(示差走査熱量計)販売のお知らせ

2018年9月
mIRageスペクトロスコピー新機能開発!!IR+Raman スペクトロスコピー(IR+ラマン 同時測定スペクトロスコピー)

顕微FT-IRを超える新世代 高空間分解能赤外分光分析システム フォトサーマルインデュースドレゾナンス検出方式 mIRage(ミラージュ)システムのご紹介

サブミクロン空間分解能 赤外分光分析システム mIRage(ミラージュ)とnanoIRワークショップ開催のお知らせ

2018年8月
サブミクロン赤外分光分析システム mIRage(ミラージュ)展示のお知らせ

2018年7月
リンザイス社 熱拡散率・熱伝導率・比熱測定システム新製品販売のお知らせ

2018年5月
サブミクロン赤外分光分析システムMirage(ミラージュ)新会社設立のお知らせ

2018年4月
リンザイス社 熱拡散・熱伝導率測定装置のご案内

リンザイス社 高温顕微熱分析システムのご案内

デモ使用装置 nanoIR スペクトロスコピー 格安販売のお知らせ(AFM-IR 赤外分光分析/熱分析装置)

ナノビア社 ナノ・マイクロ インデンテーション/スクラッチ/摩耗テストシステムのご案内

リンザイス社創業60周年!!高感度汎用型熱分析システム特別価格販売のお知らせ

2018年3月
デモ仕様装置 nanoIR スペクトロスコピー 格安販売のお知らせ

2018年2月
mIRage IR microscope – サブミクロン赤外分光分析装置

nanoIR1及びnanoIR2デモ使用装置格安販売

2018年1月
ナノスケール赤外分光分析システム ミラージュ(mIRage)の期間限定デモのお知らせ

2017年12月
新製品 キセノンフラッシュ熱拡散・熱伝導率・比熱測定システム 新製品販売のお知らせ

新技術 ナノスケール分解能(0.5μm) 赤外分光分析システム販売のお知らせ

2017年10月
新製品・新測定方式赤外分光分析システムのご紹介

2017年5月
新発売 AFM-IRファーストスペクトラ&マッピング測定モード

2017年4月
高感度熱分析システムのご紹介

ナノビア社 トライボメーターのご案内(摩耗/摩擦専用試験機)

新発売 高分解能タッピングAFM-IR測定モード nanoIR スペクトロスコピーシステム

2017年3月
ナノビア社 ナノ・マイクロ・マクロ インデンテーション/スクラッチ/摩耗テストシステム 2機種のご案内

AFM-IR(nanoIRスペクトロメトリー)新機能開発のお知らせ

高分解能タッピングAFM-IR測定モード
-nanoIR スペクトロスコピーシステム -
空間分解能が10nm以下を実現しました
 
2種スマートフォン表面ガラス比較テスト
1

高速チューナブルパルスレーザーが、AFMカンチレバーチップ先端と試料表面の接触箇所に照射されて、試料が特定波数領域で光を吸収した時、瞬間的に試料の熱膨張が起こる。

2

瞬間熱膨張がカンチレバーを刺激し、カンチレバー振動の振幅が変化する。
レーザーパルスを連続的に波数を変えて照射することにより、特定波数におけるカンチレバーの振幅が変化し、振幅の大きさがIR吸収度に相関する。又、カンチレバーの共鳴信号変化を検知しているため高感度測定が可能になる。

3

連続レーザーパルス照射によりカンチレバーの振幅が変化し、振幅信号ピークトップ連続線がIRスペクトルとして表される。

4

タッピングAFM-IR測定モードにより空間分解能10nm以下の化学特性イメージが得られる。

5

AFM-IR測定でトポグラフ(AFM高さ像)、化学特性(IR吸収像)及び機械特性(硬さ像)の3種データが同時に得られる。

 

新しいAFM-IR測定技術セミナー/ワークショップを
2017年5月10日(大阪)、12日(東京)に開催します。
詳細・お申込みはこちらよりご覧ください。

 

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