2019年12月
サブミクロン空間分解能 赤外分光分析/ラマン分光分析同時測定に関するデモ測定のお知らせ
熱分析総合メーカー リンザイス社 熱伝導率測定装置TIMテスターのご案内
2019年11月
プラスチック原料品質検査装置 - 熱分析 -
顕微FT-IRを超える新世代 高空間分解能赤外分光分析システム フォトサーマルインデュースドレゾナンス検出方式 mIRage（ミラージュ）デモ機(1年使用)販売のご紹介
高速昇・降温示差走査熱量計(Chip-DSC)販売のお知らせ
サブミクロン空間分解能赤外分光 / ラマン分光同時分析システム Webセミナーのお知らせ
2019年10月
新製品 DSC（熱分析）・ラマン分光同時測定システムのご案内
ナノスケール空間分解能 赤外分光分析 nanoIR2 プラス mIRage コンビネーションシステム限定特別販売のお知らせ
2019年9月
製品ラインアップご案内 ナノ/マイクロ/マクロスケール分析
2019年8月
2019年熱測定サマースクール及び分析機器展（JASIS）展示・新技術説明会内容のお知らせ
2019年7月
高空間分解能 赤外分光分析 nanoIR2スペクトロスコピーシステム 在庫品販売のお知らせ | 1台限定
2019年5月
ナノスケール空間分解能 (500nm以下)赤外分光・ラマン分光同時分析システム
アナシスインスツルメント社 nanoIRスペクトロスコピー新価格設定のお知らせ
2019年4月
熱伝導率測定に関するセミナー開催のお知らせ
ナノビア社 3次元寸法/形状プロファイラーシステム ノンコンタクト コンフォーカル測定方式
2019年3月
サブミクロン空間分解能 赤外分光分析の現状と新展開セミナーのお知らせ
サブミクロン空間分解能 赤外分光分析システム mIRageスペクトロスコピー 新機能のお知らせ
2019年2月
米国ナノビア社 トライボロジー評価システム トライボメーター製品のご案内
リンザイス社 高性能フラッシュライト（キセノン）熱拡散・熱伝導率測定装置のご案内
2019年1月
nanoIR2 赤外スペクトロスコピー 特別価格販売キャンペーン第二弾のお知らせ
nanoIR2 赤外スペクトロスコピー 特別価格販売キャンペーンのお知らせ
2018年9月
mIRageスペクトロスコピー新機能開発！！IR+Raman スペクトロスコピー（IR+ラマン 同時測定スペクトロスコピー）
顕微FT-IRを超える新世代 高空間分解能赤外分光分析システム フォトサーマルインデュースドレゾナンス検出方式 mIRage（ミラージュ）システムのご紹介
サブミクロン空間分解能 赤外分光分析システム mIRage（ミラージュ）とnanoIRワークショップ開催のお知らせ
2018年8月
サブミクロン赤外分光分析システム mIRage（ミラージュ）展示のお知らせ
2018年7月
リンザイス社 熱拡散率・熱伝導率・比熱測定システム新製品販売のお知らせ
2018年5月
サブミクロン赤外分光分析システムMirage（ミラージュ）新会社設立のお知らせ
2018年4月
リンザイス社 熱拡散・熱伝導率測定装置のご案内
デモ使用装置 nanoIR スペクトロスコピー 格安販売のお知らせ（AFM-IR 赤外分光分析/熱分析装置）
ナノビア社 ナノ・マイクロ インデンテーション/スクラッチ/摩耗テストシステムのご案内
リンザイス社創業60周年！！高感度汎用型熱分析システム特別価格販売のお知らせ
2018年3月
デモ仕様装置 nanoIR スペクトロスコピー 格安販売のお知らせ
2018年2月
mIRage IR microscope – サブミクロン赤外分光分析装置
2018年1月
ナノスケール赤外分光分析システム ミラージュ（mIRage）の期間限定デモのお知らせ
2017年12月
新製品 キセノンフラッシュ熱拡散・熱伝導率・比熱測定システム 新製品販売のお知らせ
新技術 ナノスケール分解能（0.5μm）
赤外分光分析システム販売のお知らせ
2017年10月
新製品・新測定方式赤外分光分析システムのご紹介
2017年5月
新発売 AFM-IRファーストスペクトラ&マッピング測定モード
2017年4月
高感度熱分析システムのご紹介
ナノビア社 トライボメーターのご案内（摩耗/摩擦専用試験機）
新発売 高分解能タッピングAFM-IR測定モード nanoIR スペクトロスコピーシステム
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お客様各位 |
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データ解析コンサルティング
・貴社測定データにどのようなことが表れているか |
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受託品質検査測定（期間契約）
・貴社がご必要な測定を弊社がルーティン的に弊社所有の装置にて測定して報告 |
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受託測定（単発契約又は継続契約）
測定後報告書にて報告申し上げます。 |
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赤外分光分析 |
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測定内容 |
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・高分子材料全般 ・半導体関連 ・異物分析 ・分散状態 ・コンポジット境界/分布分析 |
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熱分析 |
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測定内容 |
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・ガラス転移温度 ・結晶化/融解温度 ・比熱 ・重量変化 ・熱膨張特性 ・粘弾性特性 |
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詳細内容や価格等はお問い合わせページ |
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